1. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده : / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
2. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده : / Yonghua Rong
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع : Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده : Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Materials-- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
4. #Transmission electron microscopy of materials
پدیدآورنده : #Gareth Thomas, Michael J. Goringe
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع : Electron microscopy ،Materials -- Testing
رده :
#
TA
،#.
T48
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)