1. Advanced transmission electron microscopy
پدیدآورنده: / Francis Leonard Deepak, Alvaro Mayoral, Raul Arenal, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع: Transmission electron microscopy.,Nanostructured materials--Nondestructive testing
رده :
QH212
.
T7A39
2015
2. Characterization of microstructures by analytical electron microscopy (AEM)
پدیدآورنده: / Yonghua Rong
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد و انتشارات دانشگاه تبریز (آذربایجان شرقی)
موضوع: Nanostructured materials - Nondestructive testing,Electron microscopy
رده :
TA417
.
23
.
R66
2012
3. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده: Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع: ، Materials-- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
4. Electron optical applications in materials science
پدیدآورنده: Murr, Lawrence Eugene
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع: ، Materials- Testing,، Electron optics,، Electron microscopy
رده :
TA
418
.
5
.
M87
5. Transmission electron microscopy of materials
پدیدآورنده: / [by] Gareth Thomas and Michael J. Goringe
کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Electron microscopy,Materials -- Testing
رده :
TA417
.
23
.
T48
1979
6. Transmission electron microscopy of materials
پدیدآورنده: / [by] Gareth Thomas and Michael J. Goringe
کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)
موضوع: Electron microscopy,Materials -- Testing
رده :
TA
417
.
23
.
T48
1979
7. #Transmission electron microscopy of materials
پدیدآورنده: #Gareth Thomas, Michael J. Goringe
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)
موضوع: Electron microscopy ،Materials -- Testing
رده :
#
TA
،#.
T48
